• Prof. Dr. R. Berndt

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Kurzbeschreibung:

Einzelne molekulare Schalter auf Einkristalloberflächen im Ultrahochvakuum werden mit der Spitze eines Tunnelmikroskops (STM) oder Kraftmikroskops (AFM) bei tiefen Temperaturen kontaktiert, um Schaltprozesse hinsichtlich Änderungen von Geometrie und elektronischen Eigenschaften ein­schließlich der Fluoreszenz zu untersuchen. Gleichzeitig werden mit AFM die Kräfte zwischen Molekül und Spitze gemessen. Die Messungen sollen teils mit gezielt funktionalisierten und detailliert charakterisierten Spitzen durchgeführt werden.